THICKNESS TESTER

SKU: thinkness-tes Categories: , Tags: , , , ,

主要利用電容探測技術,進行高精度無接觸的檢測,非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,重複性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片等優點。

Specification

組成Thickness

探頭

 方法:非接觸式電容探測技術
 量程:50μm-1000μm
 測量誤差:≤士3um
 重復性:≤0.2%
 單點測量時間:<1秒