MOBILITY(HALL)TESTER

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設備主要利用微波測試原理,非接觸式測量射頻 HEMT 結構 半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度。可實現單點測試, 亦可以實現面掃描的測試功能,具有快速、無損、準確等優 勢,可用於材料研發及工藝的監測及質量控制。

一、特點

  • 適用於遷移率量測範圍在 100cm2/V-s~3000cm2/V-s 的射頻 HEMT 外延片。
  • 非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,重複性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片等優點。

Specification

Specification描述
載流子遷移率測試範圍100~20000cm2/V•s
方塊電阻測試範圍100-3000Ω/sq
載流子濃度1E + 11- 1E+14
載流子遷移率動態重複性≤2%
載流子遷移率靜態重複性≤1%
載流子遷移率測試準確性士10%
方塊電阻測試動態重複性≤2%
方塊電阻靜態重複性≤1%
方塊電阻測試準確性士10%
測試樣品允許厚度200-1500um
測試樣片尺寸2-8″
磁感應強度1.0T 可刪除可反轉
軟件功能自動輸出包含Mapping,二維等高線圖3D圖的報告
自動傳送測試能力可選配