Specification
產品名稱及型號 | Model | Application | 與進口對標設備 |
非接觸式渦流法方阻測試儀 | ER1110 | 半導體材料襯底及外延測試 (Si, SiC, GaN,晶錠) | Semilab LEI-1510 系列 Napson NC-80MAP |
非接觸式渦流法電阻率測試探頭 | ER-P1000 | 光伏分選機,Si片分選 | Napson EC-80P |
非接觸式SPV法PN測試探頭 | ER-P0100 | 光伏分選機,Si片分選 | Napson PN-50a |
非接觸式霍爾法遷移率測試儀 | HM-2000 | 射頻GaN HEMT 結構外延片測試 | Semilab LEI-1610E100A系列 |
非接觸式JPV法表面方阻測試探頭 | SP-P3000 | 電池片P擴或N擴後表面方阻 | Semilab CMS-1AP |