產品規格
| 測量原理 | QSSPC（准穩態光電導） |
| 少子壽命測量範圍 | 0.1μS~1000μS |
| 測量模式 | QSSPC，瞬態，壽命歸一化分析 |
| 兼容方阻範圍 | 2~1000Ω /口 |
| 樣品規格 | 40mm~300mm |
| 脈衝寬度 | 80 nS |
| 環境溫度 | 20°C~30°C |
| 峰值功率 | 60W |
| 電源要求 | AC100~240V, 50/60Hz |
少子壽命測試儀
- 適應低電阻率樣片的測試需要，小樣品電阻率可達1Ω*cm
- 全自動操作及數據處理
- 對太陽能級硅片，測試前一般不需要前處理
- 能夠測試單晶或多晶硅棒、片或硅錠
- 可以選擇測試樣品上任意位置
- 對多道工序的樣品均可進行質量監控：
- 硅棒、切片的出廠、進廠檢查
- 擴散後的硅片
- 表面鍍膜後的硅片以及成品電池
特點：非接觸、非損傷測量少子壽命適用於單晶硅或多晶硅樣品