厚度測試儀

貨號: thinkness-tes 分類: , 標籤: , , , ,

主要利用電容探測技術,進行高精度無接觸的檢測,非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,重複性佳,測試敏感性高,可以直接測試產品片等優點。

產品規格

組成厚度

探頭

 方法:非接觸式電容探測技術
 量程:50μm-1000μm
 測量誤差:≤士3um
 重復性:≤0.2%
 單點測量時間:<1秒